משטח לייזר מרקם וניתוח לייזר סימון
סימון לייזר יש יישומים חשובים על ידי שינוי אזור לייזר סימון השטח באופן ניגוד ויזואלי עם השטח מסומן. לא רק אנחנו כמה רשימה של תוצאות מוקדמות, אבל אנחנו גם משתמשים בשיטות אנליטיות מתקדמות כדי לספק אפיון מעמיק ואפיון של תהליכים מרקם לייזר על משטחי מתכת וזכוכית.
משטח העט profilometer אולי הטכניקה המפורסמת ביותר בשימוש נרחב למדידת נתונים רלוונטיים. לכן, טכנולוגיה זו נבחרה להערכה ראשונית של עיבוד לייזר. מורפולוגיה של פני השטח היא תיאור איכותי וכמותי של מאפייני שטח נפוצים יותר וצורות, וטכניקות הדמיה שימושיות יותר כאן. כך, תמונות דו מימדיות תלת מימדי של מיקרוסקופ לייזר סריקה confocal נבחרו.
איור 1: השתקפות של חומרים חשופים אלומיניום מעובד עם כוח שיא גבוה, תת לייזרים תת סיבים nanosecond
ספקטרופוטומטרים מתקדמים נמצאים בשימוש נרחב כדי לכמת את צבעי השטח. זה יכול להיות מושגת על ידי ניתוח האור המוחזר מנקודות מרובות על ספקטרום גלוי, בין אם היא מכילה מדגיש, כדי ליצור עקומת השתקפות ייחודית המשקפת את המאפיינים של כל משטח. מכשירים אלה משמשים גם למדידת הערך L * של פני השטח או את עומק צבע פני השטח. עכשיו, טכנולוגיה זו היא כלי הכרחי לכימות האפקטיביות של סימון לייזר על מגוון רחב של מוצרי צריכה. אלה השתקפות השתקפות וערכים L * שימשו לכמת את השירות של כוח שיא גבוה, קצר סיבי הדופק לייזרים (איור 1) על שלושה חומרים מאתגרים, אלומיניום, נחושת וזכוכית.
